Object
Title: Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza : opis patentowy nr 176165
Creator:
Żukowski, Paweł ; Karwat, Czesław (1941- ) ; Komarow, Faddiej F. ; Latuszyński, Andrzej ; Liśkiewicz, Jerzy ; Mączka, Dariusz ; Partyka, Janusz ; Węgierek, Paweł
Date:
Zgłoszono 08.06.1995. ; Zgłoszenie ogłoszono 09.12.1996 BUP 25/96. ; Opublikowano 30.06.1993 WUP 06/93. ; 2013 (wyd. cyfrowe)
Resource Type:
Oryginal title:
Description:
Publisher:
Contributor:
Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Skrynicki, Wiesław. Oprac.
Format:
application/pdf ; pełnotekstowe przeszukiwanie publikacji
Relation:
Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 30905 (A1) 09.12.1996 ; Nr zgłoszenia: 309058.
Coverage:
G01N 27/00 Int.Cl.6. ; G01R 31/00 Int.Cl.6.
Rights Management:
Tags:
Object collections:
Last modified:
Apr 11, 2014
In our library since:
Jul 12, 2013
Number of object content hits:
118
Number of object content views in PDF format
94
All available object's versions:
https://bc.pollub.pl/publication/3539
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| PL 176165 B1 | Apr 11, 2014 |