Tytuł:

Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia : opis patentowy nr 214902

Tytuł oryginału:

PL 214902 B1

Twórca:

Żukowski, Paweł ; Karwat, Czesław (1941- ) ; Kozak, Czesław Mariusz ; Kolasik, Mariusz

Opis:

Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łącznika aparatowego niskiego napięcia umieszczonego w obwodzie prądu stałego lub przemiennego z zadaną wartością natężenia prądu, w którym łącznik poddaje się wielokrotnemu załączaniu i wyłączaniu, charakteryzuje się tym, że łącznik o stykachz powłoką ochronną o zadanej grubości w obwodzie o zadanym natężeniu prądu, nie większym od wartości znamionowej poddaje się wielokrotnemu załączaniu o czasach załączenia 0,5-10 s, korzystnie 2 s i czasie wyłączenia 0,5-10 s, korzystnie 1 s, następnie na rezystancji zestykowej łącznika w stanie zamkniętym w każdym cyklułączeniowym, dokonuje się pomiaru i rejestracji wartości spadku napięcia (ΔUmin), występująca degradacja powierzchni powoduje wzrost rezystancji zestykowej i następuje gwałtowny wzrost spadku napięcia do większej wartości (ΔUmax), zaś liczba cykli (Nśr), przy której nastąpił gwałtowny wzrost napięcia na rezystancji zestykowej określa szybkość degradacji powłoki ochronnej styków.

Wydawca:

Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (wyd. oryg.) ; Politechnika Lubelska (wyd. cyfrowe)

Współtwórca:

Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

Data wydania:

2014 (wyd. cyfrowe) ; Zgłoszono 06.04.2009. ; Zgłoszenie ogłoszono 11.10.2010 BUP 21/10. ; Opublikowano 30.09.2013 WUP 09/13.

Typ dokumentu:

Opis patentowy

Format:

application/pdf ; pełnotekstowe przeszukiwanie publikacji

Powiązania:

Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 387721 (A1) 06.04.2009. ; Nr zgłoszenia: 387721.

Zakres:

G01 R 31/327 (2006.01) Int. Cl.

Zarządzanie prawami:

Politechnika Lubelska

Tagi:

bplmj