Filtry
  • Kolekcje
  • Typ pliku
  • Format treści
  • Twórca
  • Współtwórca
  • Data wydania
  • Typ dokumentu
  • Język

Szukana fraza: [Tytuł = Elementy optoelektroniczne \- Metody pomiaru parametrów fototranzystorów \- Postanowienia ogólne BN\-77\/3375\-44 Arkusz 00] lub [Twórca = Fornal, Tadeusz.] lub [Twórca = Malinowski, Jerzy] lub [Twórca = Centrum Naukowo\-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. \\b Instytut Technologii Elektronowej.]

Wyników: 8

obiektów na stronie

Fornal, Tadeusz. Malinowski, Jerzy Centrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej.

1977(wyd. oryg.)
branżowa norma

Fornal, Tadeusz. Malinowski, Jerzy Centrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej.

1977(wyd. oryg.)
branżowa norma

Fornal, Tadeusz. Malinowski, Jerzy Centrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej.

1977(wyd. oryg.)
branżowa norma

Fornal, Tadeusz. Malinowski, Jerzy Centrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej

1977(wyd. oryg.)
branżowa norma

Fornal, Tadeusz. Malinowski, Jerzy Centrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej.

1977(wyd. oryg.)
branżowa norma

Weroński, Andrzej Malinowski, Wacław Kiełbiński, Jerzy Skrzydło, Krzysztof Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 02.12.1982.
Opis patentowy

Frąckiewicz, Henryk Weroński, Andrzej (1938- ) Kiełbiński, Jerzy Malinowski, Wacław Maj, Marek Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 12.04.1985.
Opis patentowy

Jaroszyńska-Wolińska, Justyna Herbert, P. Anthony Rogalski, Jerzy Malinowski, Szymon Piotr Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.

2018 (wyd. cyfrowe) ; Zgłoszono 10.04.2017 ; Zgłoszenie ogłoszono 12.02.2018 BUP 04/18 ; Opublikowano 30.11.2018 WUP 11/18.
Opis patentowy

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji