Tytuł:

Urządzenie do pomiaru i rejestracji odkształceń powłok cienkościennych obracających się cylindrów pracujących w pozycjach nie pionowych : opis patentowy nr 146903

Tytuł oryginału:

PL 146903 B1

Twórca:

Frąckiewicz, Henryk ; Weroński, Andrzej (1938- ) ; Kiełbiński, Jerzy ; Malinowski, Wacław ; Maj, Marek

Opis:

Przedmiotem wynalazku jest urządzenie do pomiaru i rejestracji odkształceń powłok cienkośoiennyoh obraoająoych się cylindrów pracujących w pozycjach nie pionowych, zwłaszcza płaszczy pieców obrotowych do wypalania klinkieru cementowego.

Wydawca:

Politechnika Lubelska

Współtwórca:

Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Data wydania:

Zgłoszono 12.04.1985. ; Zgłoszenie ogłoszono 21.10.1986 [BUP]. ; Opublikowano 31.07.1989 [WUP]. ; 2013 (wyd. cyfrowe)

Typ dokumentu:

Opis patentowy

Format:

application/pdf ; pełnotekstowe przeszukiwanie publikacji

Powiązania:

Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 252915 (A1) 12.04.1985. ; Nr zgłoszenia: 252915.

Zakres:

G01B 5/20 Int. Cl.4.

Zarządzanie prawami:

Politechnika Lubelska

Tagi:

bplpmj