Filters
  • Collections
  • File type
  • Content format
  • Creator
  • Subject and Keywords
  • Contributor
  • Date
  • Resource Type
  • Language

Search for: [Title = Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia \: opis patentowy nr 214902] OR [Creator = Żukowski, Paweł] OR [Creator = Karwat, Czesław \(1941\- \)] OR [Creator = Kozak, Czesław Mariusz] OR [Creator = Kolasik, Mariusz]

Number of results: 27

items per page

Żukowski, Paweł Kołtunowicz, Tomasz. Rogalski, Przemysław Szrot, Marek Płowucha, Janusz Tadeusz Subocz, Jan Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.

2019 (wyd. cyfrowe i oryginalne)
Opis patentowy

Fedotov, Alexander K. Maliński, Mirosław Patryn, Aleksy Żukowski, Paweł Drozdov, Nikolay Kołtunowicz, Tomasz N. Mazanik, Aleksander V. Tivanov, Mikhail Kierczyński, Konrad

2015 (orig. and digital ed.)
book

This page uses 'cookies'. More information