Object
Title: Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia : opis patentowy nr 214902
Creator:
Żukowski, Paweł ; Karwat, Czesław (1941- ) ; Kozak, Czesław Mariusz ; Kolasik, Mariusz
Date:
2014 (wyd. cyfrowe) ; Zgłoszono 06.04.2009. ; Zgłoszenie ogłoszono 11.10.2010 BUP 21/10. ; Opublikowano 30.09.2013 WUP 09/13.
Resource Type:
Oryginal title:
Description:
Publisher:
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (wyd. oryg.) ; Politechnika Lubelska (wyd. cyfrowe)
Contributor:
Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.
Format:
application/pdf ; pełnotekstowe przeszukiwanie publikacji
Relation:
Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 387721 (A1) 06.04.2009. ; Nr zgłoszenia: 387721.
Coverage:
G01 R 31/327 (2006.01) Int. Cl.
Rights Management:
Tags:
Object collections:
Last modified:
Sep 23, 2014
In our library since:
Feb 24, 2014
Number of object content hits:
95
Number of object content views in PDF format
76
All available object's versions:
https://bc.pollub.pl/publication/6762
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| PL 214902 B1 | Sep 23, 2014 |