Tytuł:
Metrologia warstwy wierzchniej
Twórca:
Zaleski, Kazimierz ; Matuszak, Jakub ; Zaleski, Radosław
Temat i słowa kluczowe:
warstwa wierzchnia ; powierzchnie (technologia) ; pomiary twardości ; anihilacja pozytonów
Wydawca:
Data wydania:
Typ dokumentu:
Format:
pełnotekstowe przeszukiwanie publikacji
Język:
Powiązania:
978-83-7947-345-8 ; Podręczniki - Politechnika Lubelska