Korytkowska, Krystyna ; Wysocka, Krystyna ; Godlewski, Ryszard ; Muzyczek, Jadwiga ; Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego, Warszawa
2015 (wyd. cyfrowe) ; 1987 (wyd. oryg.)
Jul 27, 2015
Jul 27, 2015
162
142
https://bc.pollub.pl/publication/10025
Edition name | Date |
---|---|
8492 Odbitki drukarskie offsetowe - Wymagania i badania jakości nadruku za pomocą pasków kontrolnych BN-86/7411-02 | Jul 27, 2015 |
Godlewski, Ryszard Muzyczek, Jadwiga Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Muzyczek, Jadwiga Godlewski, Ryszard Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Dąbrowski, Janusz A. Korytkowska, Krystyna Godlewski, Ryszard Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Walewska, Barbara Korytkowska, Krystyna Godlewski, Ryszard Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Jankowski, Ryszard Godlewski, Ryszard Muzyczek, Jadwiga Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Bester, Józef Godlewski, Ryszard Muzyczek, Jadwiga Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Renke, Zenon Godlewski, Ryszard Muzyczek, Jadwiga Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Godlewski, Ryszard. Muzyczek, Jadwiga. Magdzik, Sławomir Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego.