Filtry

Szukana fraza: [Opis = Urządzenie do pomiaru spadku napięcia na implantowanym zestyku składa się z komory hermetycznej, z zespołu pomiaru prądu, z zespołu pomiaru napięcia, przy czym w hermetycznej komorze implantatora umieszczona jest na nieruchomym uchwycie próbka materiału implantowanego, zaś na przeciw na ramieniu dźwigni równoramiennej, odchylanym z obszaru wiązki jonów, umocowana jest elektroda probiercza, która po implantacji próbki określoną dawkę jonów, dotyka do implantowanej próbki z zadaną na drugim ramieniu dźwigni siłą od siłownika z pomiarem siły.]

Wyników: 1

obiektów na stronie

Karwat, Czesław (1941- ) Żukowski, Paweł Liśkiewicz, Jerzy Komarow, Faddiej F. Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu Skrynicki, Wiesław. Oprac.

Zgłoszono 20.06.1996.
Opis patentowy

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji