Filters

Search for: [Description = Sposób polega na przepuszczeniu przez badany element wiązki fal ultradźwiękowych o częstotliwości w paśmie 2,0 \- 9,99 MHz w celu otrzymania na lampie oscyloskopowej obrazu kolejnych tłumionych ech, a następnie wyznacza się wartość wskaźnika SPST = A3\/A4 = A4\/A5, będącego ilorazem pola powierzchni zawartego pod pikiem trzeciego echa na ekranie oscyloskopu do pola powierzchni pod pikiem czwartego echa i równego odpowiednio polu powierzchni echa czwartego do piątego, po czym porównuje się go z krzywą wzorcową zależności wskaźnika SPST od stopnia przebudowy struktury stali uzyskaną dla wzorców z tego samego gatunku materiału.]

Number of results: 1

items per page

Szewczyk, Sławomir Weroński, Andrzej (1938- ) Skrynicki, Wiesław. Oprac. Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 22.11.1991.
Opis patentowy

This page uses 'cookies'. More information