Szukana fraza: [Tytuł = Odbitki drukarskie offsetowe \- Wymagania i badania jakości nadruku za pomocą pasków kontrolnych BN\-86\/7411\-02 \/ \\c \[Krystyna Korytkowska, Ryszard Godlewski, Jadwiga Muzyczek \; oprac. Centralny Ośrodek Badawczo\-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego, Warszawa\].] lub [Twórca = Korytkowska, Krystyna] lub [Twórca = Wysocka, Krystyna] lub [Twórca = Godlewski, Ryszard] lub [Twórca = Muzyczek, Jadwiga] lub [Twórca = Centralny Ośrodek Badawczo\-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego, Warszawa]
Wyników: 55
Bester, Józef Kupczyńska, Ewa Godlewski, Ryszard Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Godlewski, Ryszard Dąbrowski, Janusz A. Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
Bojczewski, Krzysztof. Godlewski, Ryszard. Kulesza, Elżbieta. entralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego.
Wzorce kontrolne dla reprodukcji poligraficznej - Podział i charakterystyka techniczna BN-80/7402-04
Bester, Józef. Kupczyńska, Ewa. Godlewski, Ryszard. Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego.
Godlewski, Ryszard Wikler, Edward Kosiorowska, Grażyna Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego
