Filtry
  • Kolekcje
  • Typ pliku
  • Format treści
  • Twórca
  • Data wydania
  • Typ dokumentu
  • Język
wyszukiwanie zaawansowane ?

Szukana fraza: [Tytuł = Elementy półprzewodnikowe \- Diody ostrzowe typu AAP 120, AAP 152, AAP 153, AAP 155, AAP 161, AAP 162 BN\-72\/3375\-15 Arkusz 08] lub [Twórca = Naukowo\-Produkcyjne Centrum Półprzewodników.]

Wyników: 164

obiektów na stronie
Dodaj wszystkie do bibliografii

Analogowe układy scalone - Pomiar napięcia niezrównoważenia wejściowego UIO BN-83/3375-26.22

Tarnowski, Mirosław. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników.

1983 (wyd. oryg.)
branżowa norma

Układy scalone analogowe - Metody pomiarów parametrów elektrycznych - Postanowienia ogólne BN-83/3375-26/00

Wojtarowicz, Adam. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników.

1985 (wyd. oryg.)
branżowa norma

Układy scalone cyfrowe - Metody pomiarów parametrów elektrycznych - Postanowienia ogólne BN-83/3375-24/00

Wojtarowicz, Adam. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników.

1985 (wyd. oryg.)
branżowa norma

Cyfrowe układy scalone - Układy kombinatoryjne - Metoda pomiaru czasów propagacji tPHL i tPLH BN-76/3375-24 Arkusz 16

Zawadzki, Andrzej Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Cyfrowe układy scalone - Układy kombinatoryjne - Metoda pomiaru napięcia wyjściowego w stanie wysokim UOH BN-76/3375-24 Arkusz 12

Zawadzki, Andrzej Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Cyfrowe układy scalone - Układy kombinatoryjne - Metoda pomiaru napięcia wyjściowego w stanie niskim UOL BN-76/3375-24 Arkusz 11

Zawadzki, Andrzej Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Cyfrowe układy scalone - Układy kombinatoryjne - Metoda pomiaru wyjściowego prądu zwarcia IOS BN-76/3375-24 Arkusz 05

Zawadzki, Andrzej Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Cyfrowe układy scalone - Układy kombinatoryjne - Metoda pomiaru prądu wejściowego w stanie wysokim IIH BN-76/3375-24 Arkusz 04

Zawadzki, Andrzej Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Cyfrowe układy scalone - Układy kombinatoryjne - Metoda pomiaru prądu wejściowego w stanie niskim IIL BN-76/3375-24 Arkusz 03

Zawadzki, Andrzej Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Półprzewodnikowe elementy mikrofalowe - Nazwy i określenia BN-77/3375-43

Uszyński, Andrzej. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników.

1977(wyd. oryg.)
branżowa norma

Elementy półprzewodnikowe - Fotorezystory - Metody badań własności fotoelektrycznych i elektrycznych fotorezystorów na promieniowanie widzialne BN-74/3375-25

Korbutt, Tadeusz. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników.

1974 (wyd. oryg.)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1321N BN-88/3375-39/14

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1621N BN-88/3375-39/13

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 7741N BN-88/3375-39/12

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1482K BN-88/3375-39/11

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1401P, UL 1402P, UL 1403P BN-88/3375-39/10

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1490N, UL 1495N, UL 1496K, UL 1497K, UL 1498K, UL 1496R, UL 1497R, UL 1498R BN-88/3375-39/09

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1242N BN-88/3375-39/08

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1111N BN-88/3375-39/07

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone analogowe - Pomiar napięć wejściowychUI, UIlim i UImax BN-87/3375-26/12

Wojtarowicz, Adam. Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa) Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone typu UL 1101N i UL 1102N BN-88/3375-39/06

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Układy scalone analogowe - Pomiar wyjściowego napięcia sumacyjnego Uoc BN-87/3375-26/31

Wojtarowicz, Adam. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa)

2014 (wyd. cyfrowe)
branżowa norma

Diody półprzewodnikowe mikrofalowe mieszające - Pomiar wyjściowej liczby szumowej Nr i znormalizowanego współczynnika szumów Fos BN-88/3375-61

Wojtarowicz, Adam. Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników. Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa).

1988(wyd. oryg.)
branżowa norma

Krzem polikrystaliczny - Pręty BN-70/0894-04

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników. Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa).

1970 (wyd. oryg.)
branżowa norma

Układy scalone typu UCY 74194N i UCY 74198N BN-88/3375-52/18

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników. Fabryka Półprzewodników "Tewa" (Warszawa).

1988(wyd. oryg.)
branżowa norma

Dane kontaktowe

Adres

Biblioteka Politechniki Lubelskiej
ul. Nadbystrzycka 36C
20-618 Lublin

Telefon

(+48) 81 538-4659

E-Mail

j.gajda@pollub.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji