Szukana fraza: [Tytuł = Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia \: opis patentowy nr 214902] lub [Twórca = Żukowski, Paweł] lub [Twórca = Karwat, Czesław \(1941\- \)] lub [Twórca = Kozak, Czesław Mariusz] lub [Twórca = Kolasik, Mariusz]
Wyników: 27
Żukowski, Paweł Kołtunowicz, Tomasz. Rogalski, Przemysław Szrot, Marek Płowucha, Janusz Tadeusz Subocz, Jan Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.
2019 (wyd. cyfrowe i oryginalne)
Opis patentowy
Fedotov, Alexander K. Maliński, Mirosław Patryn, Aleksy Żukowski, Paweł Drozdov, Nikolay Kołtunowicz, Tomasz N. Mazanik, Aleksander V. Tivanov, Mikhail Kierczyński, Konrad
2015 (wyd. oryg. i cyfrowe)
książka
