Tytuł:

Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza : opis patentowy nr 176165

Tytuł oryginału:

PL 176165 B1

Twórca:

Żukowski, Paweł ; Karwat, Czesław (1941- ) ; Komarow, Faddiej F. ; Latuszyński, Andrzej ; Liśkiewicz, Jerzy ; Mączka, Dariusz ; Partyka, Janusz ; Węgierek, Paweł

Opis:

Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał impiantowany - elektroda probiercza, polegający na pomiarze spadku napięcia przy zadanej wartości prądu stałego i określonej sile docisku elektrody probierczej do materiału implantowanego charakteryzuje się tym, że badany materiał umieszcza się w implantatorze, kolejno poddaje się go implantacji, mierzy się spadek napięcia, podczas zatrzymania implantacji, przy czym pomiar spadku napięcia powtarza się przy kolejnych dawkach jonów implantowanych, aż do momentu osiągnięcia ustalonej wartości spadku napięcia w niezmiennym układzie pomiarowym i tych samych warunkach.

Wydawca:

Politechnika Lubelska

Współtwórca:

Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Skrynicki, Wiesław. Oprac.

Data wydania:

Zgłoszono 08.06.1995. ; Zgłoszenie ogłoszono 09.12.1996 BUP 25/96. ; Opublikowano 30.06.1993 WUP 06/93. ; 2013 (wyd. cyfrowe)

Typ dokumentu:

Opis patentowy

Format:

application/pdf ; pełnotekstowe przeszukiwanie publikacji

Powiązania:

Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 30905 (A1) 09.12.1996 ; Nr zgłoszenia: 309058.

Zakres:

G01N 27/00 Int.Cl.6. ; G01R 31/00 Int.Cl.6.

Zarządzanie prawami:

Politechnika Lubelska

Tagi:

bplmj