Obiekt

Tytuł: Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza : opis patentowy nr 176165

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2014-04-11

Data dodania obiektu:

2013-07-12

Liczba wyświetleń treści obiektu:

94

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

75

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.pollub.pl/publication/3539

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
PL 176165 B1 2014-04-11

Podobne

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji