Filtry
  • Kolekcje
  • Typ pliku
  • Format treści
  • Twórca
  • Współtwórca
  • Data wydania
  • Typ dokumentu

Szukana fraza: [Tytuł = Badania możliwości poprawy wybranych właściwości metrologicznych mikroprocesorowych częstościomierzy cyfrowych i systemów pomiarowych z częstotliwościowym nośnikiem informacji] lub [Twórca = Pawłowski, Eligiusz]

Wyników: 2

obiektów na stronie

Kisiel, Janusz Pawłowski, Eligiusz Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

Zgłoszono 30.12.2002.
Opis patentowy

Jasik, Jan Ryszard Kapka, Stanisław Pawłowski, Eligiusz Toborek, Krzysztof Waszczuk, Zbigniew Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 06.03.1985.
Opis patentowy

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji