Filtry
  • Kolekcje
  • Typ pliku
  • Format treści
  • Twórca
  • Współtwórca
  • Data wydania
  • Typ dokumentu

Szukana fraza: [Tytuł = Sposób badania faz na wewnętrznych i zewnętrznych powierzchniach krzywoliniowych, zwłaszcza pierścieni łożysk tocznych \: opis patentowy nr 114909] lub [Twórca = Jaśkiewicz, Wacław]

Wyników: 6

obiektów na stronie

Jaśkiewicz, Wacław Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 22.02.1980.
Opis patentowy

Jaśkiewicz, Wacław Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 23.07.1976.
Opis patentowy

Jaśkiewicz, Wacław Łepecki, Aleksander Wyższa Szkoła Inżynierska Lublin. Uprawniony z patentu

Zgłoszono 05.10.1976.
Opis patentowy

Łepecki, Aleksander Olejarski, Bogusław Jaśkiewicz, Wacław Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu

Zgłoszono 06.06.1977.
Opis patentowy

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji