Filtry
  • Kolekcje
  • Typ pliku
  • Format treści
  • Twórca
  • Temat i słowa kluczowe
  • Współtwórca
  • Data wydania
  • Typ dokumentu
  • Język

Szukana fraza: [Tytuł = Stanowisko do oceny szczelności połączeń rur \: opis patentowy nr 222668] lub [Twórca = Iwanek, Małgorzata] lub [Twórca = Ciuszko, Michał]

Wyników: 10

obiektów na stronie

Iwanek, Małgorzata Ciuszko, Michał Politechnika Lubelska. Uprawniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.

2017 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Iwanek, Małgorzata Ciuszko, Michał Politechnika Lubelska. Uprawniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

2016 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Iwanek, Małgorzata Ciukszo Michał Politechnika Lubelska. Uprawniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

2016 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Iwanek, Małgorzata Błażejewski, Ryszard Politechnika Lubelska. Uprawniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.

2017 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Iwanek, Małgorzata Krukowski, Ireneusz Politechnika Lubelska. Uprawniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

2015 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Iwanek, Małgorzata Kowalski, Dariusz Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

2014 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Widomski, Marcin K. Kowalski, Dariusz Iwanek, Małgorzata Łagód, Grzegorz

2013 (wyd. oryg. i cyfrowe)
książka

Kowalski, Dariusz Kowalska, Beata (1959- ) Iwanek, Małgorzata Anasiewicz, Waldemar Anasiewicz, Kamil Suchorab, Paweł Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.

2018 (wyd. cyfrowe) ; Zgłoszono 07.03.2016 ;Zgłoszenie ogłoszono 11.09.2017 BUP 19/17 ; Opublikowano 30.04.2018 WUP 04/18.
Opis patentowy

Kowalski, Dariusz Kowalska, Beata Kwietniewski, Marian Iwanek, Małgorzata Duklewski, Wiesław Maciej Dziak, Stanisław Mierzwa, Aneta Kępiński, Kamil Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu ; Milczek Tomasz (1950-). Oprac.

2018 (wyd. oryg.) ;Zgłoszono 03.03.2015 ; Zgłoszenie ogłoszono 12.09.2016 BUP 19/16 ; Opublikowano31.07.2018 WUP 07/18.
Opis patentowy

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji