Szukana fraza: [Opis = Przedmiotem wynalazku jest urządzenie do pomiaru i rejestracji odkształceń powłok cienkośoiennyoh obraoająoych się cylindrów pracujących w pozycjach nie pionowych, zwłaszcza płaszczy pieców obrotowych do wypalania klinkieru cementowego]
Wyników: 1
Frąckiewicz, Henryk Weroński, Andrzej (1938- ) Kiełbiński, Jerzy Malinowski, Wacław Maj, Marek Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu
Zgłoszono 12.04.1985.
Opis patentowy
