Szukana fraza: [Tytuł = Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia \: opis patentowy nr 214902]
Wyników: 1
Żukowski, Paweł Karwat, Czesław (1941- ) Kozak, Czesław Mariusz Kolasik, Mariusz Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.
2014 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy
