Filtry

Szukana fraza: [Opis = Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łącznika aparatowego niskiego napięcia umieszczonego w obwodzie prądu stałego lub przemiennego z zadaną wartością natężenia prądu, w którym łącznik poddaje się wielokrotnemu załączaniu i wyłączaniu, charakteryzuje się tym, że łącznik o stykachz powłoką ochronną o zadanej grubości w obwodzie o zadanym natężeniu prądu, nie większym od wartości znamionowej poddaje się wielokrotnemu załączaniu o czasach załączenia 0,5\-10 s, korzystnie 2 s i czasie wyłączenia 0,5\-10 s, korzystnie 1 s, następnie na rezystancji zestykowej łącznika w stanie zamkniętym w każdym cyklułączeniowym, dokonuje się pomiaru i rejestracji wartości spadku napięcia \(ΔUmin\), występująca degradacja powierzchni powoduje wzrost rezystancji zestykowej i następuje gwałtowny wzrost spadku napięcia do większej wartości \(ΔUmax\), zaś liczba cykli \(Nśr\), przy której nastąpił gwałtowny wzrost napięcia na rezystancji zestykowej określa szybkość degradacji powłoki ochronnej styków.]

Wyników: 1

obiektów na stronie

Żukowski, Paweł Karwat, Czesław (1941- ) Kozak, Czesław Mariusz Kolasik, Mariusz Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu Milczek, Tomasz (1950- ). Oprac.

2014 (wyd. cyfrowe)
Opis patentowy

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji