Szukana fraza: [Opis = Przedmiotem wynalazku jest przyrząd do stykowego pomiaru mikrowielkości liniowych, mający zastosowanie w metrologii a zwłaszcza jako zespół pomiarowy wbudowany w zespół urządzenia roboczego.]
Wyników: 1
Korniluk, Wiktor Wyższa Szkoła Inżynierska Lublin. Uprawniony z patentu
Zgłoszono 31.12.1975.
Opis patentowy
